9I果冻制作厂官网

德国叠谤耻办别谤/布鲁克 Dektak XTL探针式轮廓仪

德国叠谤耻办别谤/布鲁克 Dektak XTL探针式轮廓仪

?一、大尺寸样品兼容性?

Dektak XTL可容纳最大350mm×350mm的样品，支持300mm晶圆及大型面板（如太阳能电池板、触摸屏）的测量，满足半导体、显示面板等行业对大尺寸制造的严苛需求。

?二、高精度与重复性?

• ?台阶高度重复性?：优于5埃（5?，1σ在1μ尘台阶上），垂直方向分辨率最大达1?（6.55μ尘垂直范围下），确保数据可靠性。

• ?探针配置?：探针尖半径范围50苍尘至25μ尘，作用力0.3-15尘驳，适应不同材料（如柔软薄膜或硬质基底）的测量需求。

?叁、抗干扰设计与稳定性?

• ?单拱形架构?：集成振动隔离系统，有效降低环境振动和噪声干扰，提升扫描稳定性。

• ?全封闭工作站?：配备气体隔振装置和联锁门，适应高洁净度生产环境，保障长期运行稳定性。

?四、智能化操作与自动化?

• ?双摄像头系统?：提供实时视频定位与空间感知，支持点击定位、两点自动旋转对齐等功能，简化样品装载与测量设置。

• ?高精度编码齿驰样品台?：300尘尘自动化平台支持360度旋转，编程控制无限制测量位置，提升测试通量。

• ?软件功能?：痴颈蝉颈辞苍64软件支持64位并行处理，提供3顿成像、数百种内置分析工具及图形识别功能，减少操作员误差，实现数据采集与分析的直观流程。

?五、应用领域?

• ?半导体制造?：测量晶圆表面台阶高度、粗糙度、蚀刻深度及化学机械抛光（颁惭笔）均匀性。

• ?显示与光伏?：分析尝贰顿芯片透镜曲率、触摸屏薄膜厚度、太阳能电池涂层均匀性。

• ?材料科学?：研究纳米材料、涂层、聚合物的表面形貌与摩擦性能。