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日本础滨罢贰颁艾泰克NIR/SWIR光源盒LLBKC系列是专为精密红外检测设计的工业级光源解决方案，覆盖740-1650nm宽光谱（含10种特征波长），采用无热干扰LED技术实现＞85%光强均匀性。其超紧凑机身（112×110×110mm）支持IP54防护，集成RJ-45/RS-232C智能控制接口，50,000小时长寿命特性显著优于卤素灯。
日本础滨罢贰颁艾泰克高亮度光源BOX LLBKC系列是专为高精度工业检测设计的类激光LED光源，采用光学结构实现3mm以下超窄光束（500mm距离），兼具激光级定位精度与无散斑干扰优势。标准提供80×20mm发光面（可定制至1.5m长度），±0.06°发散角控制，适用于三维轮廓测量、透明材质缺陷检测等严苛场景。
日本础滨罢贰颁艾泰克窄光子光束式照明LLNB系列是专为高精度工业检测设计的类激光LED光源，通过特殊光学结构实现3mm以下超窄光束（500mm距离），兼具激光级精度与无散斑干扰优势。支持80×20mm标准发光面（可定制长度），发散角精度±0.06°，适用于三维轮廓测量、透明材质缺陷检测等高要求场景。
日本础滨罢贰颁艾泰克大型面照明 LMWG 系列是专为大尺寸工业检测设计的高均匀性LED面光源，覆盖100×300mm至300×300mm（可定制扩展）发光区域，通过多层光学扩散技术实现＞90%均匀度与140,000Lx高亮度。采用无风扇石墨烯散热结构，支持IP54防护与-20~50℃宽温工作，适用于液晶面板、印刷卷材、新能源薄膜等大面积精密检测场景。
日本础滨罢贰颁艾泰克高亮度面照明 LMG 系列采用多层光学扩散技术，实现?超均匀照明?（均匀度＞95%）与?10万Lx级高亮度?，适用于反光材质、曲面工件的缺陷识别。其模块化设计支持多光源拼接（最大1m×1m），搭配智能温控系统，可连续工作48小时不衰减，广泛应用于3C电子、半导体、汽车零部件等行业的?外观质检、尺寸测量?等场景。
日本础滨罢贰颁艾泰克高亮度大型面照明 LMH 系列推出的高性能LED面光源产物，专为工业检测领域设计，以?超高亮度、大面积均匀照射?为核心优势，适用于复杂透光材料和高精度视觉检测场景?。
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